異物分析｜株式会社MCエバテック

異物分析

異物分析の重要性

分析装置

工場品質管理の場において、トラブルを発生させる異物は早急に原因を突き止める必要があります。製品開発段階において原因不明の異物を追及することは、早期課題解決に役立ちます。弊社では、高度な分析技術を用い迅速に異物分析に対応致します。

お困りの試料についての情報をお知らせください。

物質の形状、大きさ、数など発生状況・異物を特定するのに役立つ情報など

当社では、様々な科学機器分析を用いて異物の解析を行います。

切り出し、切削、溶媒抽出、固相抽出など

・走査型電子顕微鏡（SEM）

・X線回折法（XRD）
・蛍光X線分析法（XRF）
・走査電子顕微鏡（SEM-EDX）
・高周波誘導結合プラズマ発光分析装置
（ICP-AES）

・赤外分光法（FT-IR）
・ガスクロマトグラフ（GC）
・質量分析法（GC/MS）
・元素分析装置（CHNコーダー）

顕微鏡観察	顕微鏡にて観察し、必要に応じて写真撮影
試料形態	有機物			無機物
前処理方法	粉砕・錠剤化薄片化	粉砕	溶媒抽出熱抽出	樹脂埋込切断研磨蒸着	粉砕ガラス化ろ紙捕集切断	粉砕粒度調整ろ紙捕集	酸分解融解抽出
測定手法	FT-IR	CHN分析	GC-MS	SEM-EDX	XRF	XRD	ICP
得られる情報	主に有機物の定性分析に有効。スペクトルデータと未知試料の比較照合を行います。	C・H・N元素の含有比率を算出します。	有機化合物に有効です。有機化合物の構造を特徴的に示すマススペクトルとライブラリー検索情報により未知試料との比較照合を行います。	微細表面、断面形状を観察します。異物に含まれる無機元素の分析を行います。	F～Uまでの元素分析を行います。	結晶構造の同定を行います。	多元素の一斉分析を行います。
分析結果	それぞれの手法に応じた分析、解析結果をご提供致します。

測定の対象	測定に使用した機器	結果事例
製品混入異物	顕微鏡FT-IR、SEM-EDX	木片や金属片の混入
配管・給湯設備から発生した異物 (お風呂の水を抜いた後に浴槽底にたまる白色の微小異物）	顕微鏡FT-IR、SEM-EDX	スケール (カルシウムやマグネシウムの堆積物）
付着物 (コンクリート表面の白色付着物）	蛍光X線(XRF)	エフロ(白華)現象を原因とするカルシウムの付着

状況に応じた分析方法をご提案させていただきますので、まずはお問い合わせください。

物質に混入した異物や試料断面を形態観察することが可能です。
また特性X線の情報をもとに異物の元素分析を行います。

SEM-EDX装置

主に無機異物の同定を行います。Ｘ線を照射することで内部構造解析を非破壊で行うことが可能な装置です。
また試料の結晶性などの情報を得るにも有効です。

XRD装置

測定無機元素はF～Uまで可能です。試料全体の平均的な元素情報を得るには有効です。

XRF装置

主に有機異物の分析を行います。異物を有姿の状態あるいは異物部位のみサンプリングし測定を行うことが可能です。主に有機異物の定性などを行います。